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通過適當的照明設計,可以很好地分離圖像中的目標信息和背景信息,可以大大降低圖像處理算法分割和識別的難度,提高系統的定位和測量精度。提高了系統的可靠性和整體性能。相反,如果光源設計不當,圖像處理算法和成像系統的設計就會事半功倍。因此,光源和光學系統設計的成敗是決定系統成敗的主要因素。
1.照亮目標,提高目標亮度;
2.突出測量特點,簡化圖像處理算法;
3.克服環境光的干擾,保證圖像的穩定性,提高圖像的信噪比;
4.提高視覺系統的定位測量、識別精度和系統運行速度;
5.降低系統設計的復雜度,形成有利于圖像處理的成像效果;
1.環形光源
環形光源提供不同的照明角度和不同的顏色組合,可以更好地突出物體的三維信息;高密度LED陣列,高亮度;多種緊湊設計節省安裝空間;解決對角照亮陰影的問題;可選擴散板和導光板,具有均勻的光擴散。應用:印刷電路板基板檢測、集成電路元件檢測、顯微鏡照明、液晶校準、塑料容器檢測、集成電路印刷檢測。
2.背后照明
高密度LED陣列表面提供高強度背光,可以突出物體。的輪廓特征,特別適合顯微鏡載物臺。紅白兩用背光,紅藍多用背光??梢耘渲貌煌念伾?,以滿足不同被測對象的多色要求。應用:機械零件尺寸測量、電子元件外觀檢查、集成電路、薄膜污點檢查、透明物體劃痕檢查等。
3.條形光源
條形光源是被測物體較大正方形結構的理想光源。顏色可以根據需要自由搭配組合;照射角度和安裝可隨意調整。應用:金屬表面檢測、圖像掃描、表面裂紋檢測、液晶面板檢測等。
4.同軸光源
同軸光源可以消除物體表面不平整造成的陰影,從而減少干擾;分束器的一部分是減少光損失,提高成像清晰度,均勻照亮物體表面。用途:該系列光源適用于金屬、玻璃、薄膜、晶圓等高反射物體、芯片和硅片表面的劃痕檢測、芯片破損檢測、Mark點定位和封裝條碼識別。
5.AOI特殊光源
不同角度的三色光照射,凸顯焊料的三維信息;增加擴散板的導光,減少反射;不同角度的組合;用途:用于電路板的焊料檢測。
6.球形集成光源
整體效果的半球形內壁360度均勻反射底部發出的光線,使得整個圖像的光照非常均勻。用途:適用于曲面、凹凸面、曲面的表面檢測,或金屬、玻璃表面高反射物體的表面檢測。7.線性光源
超亮,用柱面透鏡聚光,適用于流水線的各種連續檢測場合。用途:專用于陣列攝像機照明,專用于AOI。
8.點光源
大功率LED,體積小,發光強度高;替代光纖鹵素燈,特別適用于透鏡等同軸光源;該高效散熱裝置大大提高了光源的使用壽命。用途:適用于遠心透鏡、芯片檢測、標記點定位、芯片和液晶玻璃基板校準。
9.組合條形光源
四面配有條形燈,每面燈獨立可控;所需照明角度可根據測試對象的要求進行調整,適用范圍廣。例如:CB基板檢查、IC元件檢查、焊錫檢查、Mark點定位、顯微鏡照明、封裝條碼照明、球形物體照明等。
10.瞄準光源
對準速度快;視野開闊;準確度高;體積小,便于檢查和整合;高亮度,可選輔助環形光源。用途:VA系列光源是電路板打印機自動對準的專用光源。
目前主要有以下幾種集中分類方法:
常見光源的顏色集中在可見光范圍,主要是白光(復合光)、紅、藍、綠。此外,紅外光也很受歡迎。但是由于各種原因,紫外線的應用較少;
工業計量光源根據工作原理/特點:
不同的應用方法或原理主要有無影光源、同軸光源、點光源、線光源、背光源、組合光源和結構光源。
分為背光照明、前向照明、結構光和頻閃照明。
1.背光是指將被測物體放置在光源和攝像頭之間。它的優點是可以獲得高對比度的圖像。圖像效果是被測物體的黑白輪廓,常用于尺寸測量。
2.正向照明是指光源和攝像機位于被測物體的同一側。這種方法易于安裝,主要用于檢查物體表面的重要細節、瑕疵和劃痕。
3.結構光照明是將光柵或線光源投射到被測物體上,根據被測物體的畸變對其三維信息進行解調。
4.頻閃照明是將高頻光脈沖照射在物體上,相機拍攝需要與光源同步。
常見的可見光光源包括LED燈、熒光燈、鹵素燈(光纖光源)和特殊光源。
1.發光二極管燈:
使用壽命約為10000-30000小時。
多個led可以實現高亮度,不同風格可以同時組合;
響應快,波長可根據應用選擇,可制作不同顏色。
2.熒光燈:
使用壽命約為1500-3000小時;
優點:漫射性好,適合大面積均勻照明;
缺點:響應速度慢,亮度暗。3.光纖鹵素燈:
使用壽命約1000小時;
優點:亮度高;
缺點:響應速度慢,亮度和色溫幾乎沒有變化。
如何依靠光源增強圖像對比度?
使用相同顏色的光或相似顏色的光源可以使被照亮的部分變亮;
用相反顏色的光或相似顏色的光源照明會使被照亮的部分變暗。
不同的波長對物質有不同的穿透力(滲透性)。波長越長,對物體的穿透力越強。波長越短,它擴散到物質表面的速度就越快。