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一.基本思路
?、倭私忭椖啃枨?,明確具體檢驗內容,比如外觀檢驗、OCR、尺寸測量、定位識別等;
?、诓榭礄z驗目標的材質特性,分析目標與背景的區別,找到二者之間成像的大差異;
?、墼儐柨蛻粲袩o限制的條件,比如產線光場、工作距離、光源大小、視野范圍等;
?、芨鶕唧w情況,使用實際光源進行反復測試,得到較好的圖像效果圖,也就是不錯的光源方案。
一、環形光源:環形光源提供不同照射角度、不同顏色組合,更能突出物體的三維信息;
1、高密度LED陣列,高亮度;
2、種緊湊設計,節省安裝空間;
3、解決對角照射陰影問題;
4、可選配漫射板導光,光線均勻擴散。
使用領域:PCB基板檢驗,IC元件檢驗,顯微鏡照明,液晶校正,塑膠容器檢驗等。
二、背光源:用高密度LED陣列面提供高強度背光照明,能突出物體。的外形輪廓特點,尤其適合作為顯微鏡的載物臺。紅白兩用背光源、紅藍多用背光源,能調配出不同顏色,滿足不同被測物多色要求。
使用領域:機械零件尺寸的測量,電子元件、IC的外型檢驗,膠片污點檢驗,透明物體劃痕檢驗等。
對位光源:對位速度快;視場大;精度高;體積小,便于檢驗集成;亮度高,可選配輔助環形光源。
使用領域:VA系列光源是全自動電路板印刷機對位的專用光源。